北京中研環科
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Deep Inspectra X1譜儀是由北京中研環科科技有限公司研發設計的新一代專用于實驗室級別的X 射線吸收精細結構譜儀系統。
該譜儀采用前沿的Rowland結構設計,可使得實驗室研究人員進行 簡單、便捷的XAFS測試,實現機時自由!
Deep Inspectra X1譜儀,采用前沿的Rowland結構設計,可使得實驗室研究人員進行
簡單、便捷的XAFS測試,實現機時自由!
臺式X射線吸收譜儀
專業的儀器操作
/數據處理培訓
國內資深團隊打造
技術/售后有保障
定制化程度高,
配置豐富
產品優勢
臺式原位XAFS系統
核心部件、原位測試系統可定制;
產品詳情
基于實驗室XAFS譜儀
1.金屬Ni foil的數據對比圖
中研環科Deep Inspectra X1實驗室XAFS譜儀與同步輻射XAFS數據比較
(實驗室采譜時間均為28min,20ev<e0<30ev< span="">區間范圍設置為0.5ev步長)
應用案例-新能源電池體系
2. 不同濃度NiO的數據對比圖
軟包電池高鎳體系LiNi0.9Co0.1O2工況測試數據from中研環科原位XAFS表征系統:
實驗室XAFS吸收譜儀與同步輻射線站數據對比-1
實驗室XAFS吸收譜儀與同步輻射線站數據對比-2
軟包電池高溫環境(60℃)下充電過程中的原位XANES數據
軟包電池實際工況測試場景
軟包電池常溫環境下充電過程中的原位XANES數據
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